Radverschmutzung beim Schleifen

Die Ansammlung von Spänen im Raum zwischen den Körnern auf der Oberfläche der Schleifscheibe, bekannt als Radverschmutzung, ist für mehrere schädliche Auswirkungen bei industriellen Schleifvorgängen verantwortlich, wie z. B. die Verringerung der Standzeit der Scheibe in Verbindung mit erhöhten Schnittkräften, erhöhtem Stromverbrauch, thermischen Schäden und Toleranzabweichungen im Prozess. Darüber hinaus sind sie auch für viele Aspekte der Optimierung, Überwachung und Steuerung von Schleifprozessen von Bedeutung. In Anbetracht der großen technologischen Bedeutung dieses Themas für die Herstellung von Funktions- und Strukturkomponenten, die in Hochleistungssystemen verwendet werden, ist es häufig erwünscht, die Radverschmutzung abzuschätzen, um nicht nur die Produktivität, sondern auch die gewünschte Oberflächenintegrität aufrechtzuerhalten. Der Erfolg dieses Ansatzes erfordert jedoch ein grundlegendes Verständnis der Schleifscheibenbelastung auf mikrostruktureller Ebene. Die hier vorgestellte Studie liefert wertvolle Einblicke in den Mechanismus der Schleifscheibenverschmutzung und die Abhängigkeit der Radverschmutzung von den Bearbeitungsbedingungen und den mechanischen Eigenschaften des Werkstückmaterials beim Schleifen.

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Dr. Sanjay Agarwal ist Ex-Professor am BIET Jhansi und promovierte am IIT Delhi. Er hat viele Doktor- und M.Tech-Arbeiten betreut. Er verfügt über 33 Jahre Erfahrung in Lehre, Forschung und Industrie und besuchte viele Länder für Forschungsarbeiten. Seine Forschungsarbeit konzentriert sich auf die Bearbeitung fortschrittlicher technischer Materialien sowie auf Modellierung und experimentelle Untersuchungen.